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Fast reliability analysis of combinatorial logic circuits using conditional probabilities

机译:使用条件概率的组合逻辑电路快速可靠性分析

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摘要

Probabilistic reliability analysis is a common approach in logic circuit reliability analysis. Existing methods suffer from accuracy or scalability problems for large circuits because of combinatorial explosion. In this work we show how the use of conditional probabilities can overcome scalability problems while maintaining accurate reliability estimation. The source of accuracy and scalability problems in these approaches is the presence of reconverging signals. An efficient use of conditional probabilities used to decorrelate signals allows for fast and accurate reliability analysis.
机译:概率可靠性分析是逻辑电路可靠性分析中的常用方法。现有的方法由于组合爆炸而遭受大型电路的精度或可扩展性问题。在这项工作中,我们展示了使用条件概率如何在保持准确的可靠性估计的同时克服可伸缩性问题。这些方法中准确性和可伸缩性问题的根源是存在重新收敛的信号。有效地使用用于解相关信号的条件概率可以进行快速而准确的可靠性分析。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2010年第11期|p.1215-1218|共4页
  • 作者单位

    STMicroelectromcs, 850 Rue Jean Monnet, 38926 Crolles Cedex, France Institut Telecom, Telecom-Paristech, 46 Rue Barrault, 75013 Paris, France;

    rnSTMicroelectromcs, 850 Rue Jean Monnet, 38926 Crolles Cedex, France;

    rnInstitut Telecom, Telecom-Paristech, 46 Rue Barrault, 75013 Paris, France;

    rnSTMicroelectromcs, 850 Rue Jean Monnet, 38926 Crolles Cedex, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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