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机译:研究高周疲劳下焊点PBGA封装可靠性的实验设计
Department of Mechanical Engineering, National Cheng Kung University, Tainan, Taiwan, ROC;
机译:不同制造和多种环境负荷条件下PBGA封装的板级焊点可靠性实验设计
机译:倒装芯片PBGA封装中焊盘尺寸对焊点可靠性的影响
机译:基于ANN-PSO的PBGA焊点热机械疲劳可靠性优化
机译:无铅焊点在PBGA包装组件中的位置上的晶粒结构敏感性和疲劳可靠性
机译:PBGA封装中锡铅和锡银焊点的可靠性研究。
机译:锡膏合金的可靠性研究以改善表面安装细间距元件的焊点
机译:芯片组件焊接接头可靠性设计方法(第二报告)(回流工艺变化对焊点疲劳寿命的影响)