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From component to system failure analysis - The future challenge within work-sharing supply chains

机译:从组件到系统故障分析-工作共享供应链中的未来挑战

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摘要

Up to now, failure analysis focuses on electronic components. Few publications proceed towards subsystems like PCBs, MCMs and new package-related subsystems. But the major challenge of the future will be dedicated to systems, where component analysis is one of the analysis entries but not the home stretch toward root cause finding. Case studies from wind power-, automotive- and traction-electronics show this major failure analysis trend change in a demonstrative manner.
机译:到目前为止,故障分析主要集中在电子组件上。很少有出版物涉及诸如PCB,MCM和与封装相关的新子系统之类的子系统。但是,未来的主要挑战将集中在系统上,在这些系统中,组件分析是分析条目之一,而不是根本原因发现的起点。风力,汽车和牵引电子学的案例研究表明,这种主要的故障分析趋势以演示的方式发生了变化。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability》 |2011年第11期|p.1618-1623|共6页
  • 作者

    Peter Jacob;

  • 作者单位

    Empa - Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, Dept.173 Electronics/Reliability/Metrology, Ueberlandstrasse 129, CH 8600 Duebendorf, Switzerland;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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