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Comparative study of sensitive volume and triggering criteria of SEB in 600 V planar and trench IGBTs

机译:600 V平面和沟槽IGBT中SEB的敏感体积和触发标准的比较研究

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摘要

IGBT power components are more and more used in atmospheric and space applications. Thus, it is essential to study the influence of the natural radiation environment (NRE) on the electrical behavior of planar and trench IGBTs. 2-D numerical simulations are performed to define the sensitive volume and triggering criteria of SEBs for planar and trench IGBTs for different configurations of ionizing tracks. The analysis of the results allows a better understanding of the SEB mechanism in each structure and comparing the behavior and the robustness of these two technologies under heavy-ion irradiation.
机译:IGBT功率组件越来越多地用于大气和空间应用。因此,研究自然辐射环境(NRE)对平面IGBT和沟槽IGBT电气性能的影响至关重要。进行了二维数值模拟,以定义针对不同配置的电离迹线的平面和沟槽IGBT的SEB的敏感体积和触发标准。结果的分析可以更好地了解每种结构中的SEB机理,并比较这两种技术在重离子辐照下的性能和耐用性。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability 》 |2011年第11期| p.1990-1994| 共5页
  • 作者单位

    CNRS, LAAS, 7 Avenue du Co/one/ Roche, F-31077 Toulouse, France$2Universite de Toulouse, UPS. 1NSA, INP, ISAE, UT1, UTM, LAAS, F-31077 Toulouse, France;

    CNRS, LAAS, 7 Avenue du Co/one/ Roche, F-31077 Toulouse, France$2Universite de Toulouse, UPS. 1NSA, INP, ISAE, UT1, UTM, LAAS, F-31077 Toulouse, France;

    CNRS, LAAS, 7 Avenue du Co/one/ Roche, F-31077 Toulouse, France$2Universite de Toulouse, UPS. 1NSA, INP, ISAE, UT1, UTM, LAAS, F-31077 Toulouse, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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