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机译:600 V平面和沟槽IGBT中SEB的敏感体积和触发标准的比较研究
CNRS, LAAS, 7 Avenue du Co/one/ Roche, F-31077 Toulouse, France$2Universite de Toulouse, UPS. 1NSA, INP, ISAE, UT1, UTM, LAAS, F-31077 Toulouse, France;
CNRS, LAAS, 7 Avenue du Co/one/ Roche, F-31077 Toulouse, France$2Universite de Toulouse, UPS. 1NSA, INP, ISAE, UT1, UTM, LAAS, F-31077 Toulouse, France;
CNRS, LAAS, 7 Avenue du Co/one/ Roche, F-31077 Toulouse, France$2Universite de Toulouse, UPS. 1NSA, INP, ISAE, UT1, UTM, LAAS, F-31077 Toulouse, France;
机译:经典平面VDMOS中SEB的敏感体积和触发条件
机译:在硬开关和软开关下外延平面和沟槽栅极IGBT以及非外延平面栅极IGBT的关断行为
机译:本地寿命控制IGBT结构在1200V沟槽与新型平面PT-IGBT之间进行硬和软切换时的关断性能比较
机译:经典平面VDMOS中SEB的敏感体积和触发标准
机译:切片和体积局部回波平面相关光谱成像(EP-COSI)序列的实现和评估:幻影,大脑和小腿的研究。
机译:通过两种方法比较甲状腺的体积:超声和平面闪烁显像
机译:沟槽屏蔽平面栅极IGBT(TSPG-IGBT),具有自偏置PMOS,实现低导通状态电压和低饱和电流
机译:毛细管虹吸管系统与常规浸出沟系统污水处理的对比实验研究