机译:由于热载流子效应,功率RF N-LDMOS器件的S参数性能下降
University o/Cabes, 6072 Cabes, Tunisia;
University o/Cabes, 6072 Cabes, Tunisia;
CPM-UMR OWS 6634, University of Rouen, 76801 Saint Etienne du Rouvray, France;
THALES Air Defence, Zl du Mont Janet, 76520 Ymare, France;
机译:动态载流子传输调制,通过压电和压电效应构建性能更高的先进器件:简要回顾
机译:0.18μMMOSFET中热载波降解的研究,用于评估装置寿命和数字电路性能
机译:由于热载流子的能量低于Si-SiO2势垒,导致器件性能下降
机译:由于接口处产生的缺陷,导致功率RF N-LDMOS器件的导通电阻降低
机译:蒙特卡洛研究了低功率深亚微米n-MOSFET中的热载流子退化和器件性能。
机译:适用于全球健康状况的低成本光动力疗法设备:在3D肿瘤模型中表征电池供电的LED性能和智能手机成像
机译:采用双类型界面态模型的mOsFET器件新型热载流子退化机制
机译:碲化镉基光电器件性能特性,不稳定性及带隙分级效应的数值模拟。