机译:绝缘TRIAC封装上的实验功率循环:创新的故障分析流程,可确保可靠性
STMicroelectronics, 16 rue Pierre et Marie Curie, BP 7155, 37071 Tours Cedex 2, France,IMS Laboratory, University Bordeaux 1, CNRS, 351 cours de la Liberation, 33405 Talence Cedex, France;
STMicroelectronics, 16 rue Pierre et Marie Curie, BP 7155, 37071 Tours Cedex 2, France,Power Microelectronics Laboratory (LMP),16 rue Pierre et Marie Curie, BP 7155, 37071 Tours Cedex 2, France;
STMicroelectronics, 16 rue Pierre et Marie Curie, BP 7155, 37071 Tours Cedex 2, France;
IMS Laboratory, University Bordeaux 1, CNRS, 351 cours de la Liberation, 33405 Talence Cedex, France;
IMS Laboratory, University Bordeaux 1, CNRS, 351 cours de la Liberation, 33405 Talence Cedex, France;
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