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【24h】

Poisson shock models leading to new classes of non-monotonic aging life distributions

机译:泊松冲击模型导致非单调老化寿命分布的新类别

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摘要

Suppose a device is subjected to a sequence of shocks occurring randomly in time according to a homogeneous Poisson process. In this paper we introduce a class of non-monotonic aging distributions, the socalled New Worse then Better than Used in Failure Rate (NWBUFR) and New Worse then Better than Average Failure Rate (NWBAFR). It is shown under appropriate conditions on the probability of surviving a given number of shocks that the non-monotonic aging classes NWBUFR and NWBAFR arise from suitable Poisson shock models.
机译:假设设备按照均匀的泊松过程在时间上随机发生一系列冲击。在本文中,我们介绍了一类非单调的老化分布,即所谓的“新更糟,然后优于失效率”(NWBUFR)和“新更糟,然后优于平均失效率”(NWBAFR)。结果表明,在适当的条件下,在一定次数的冲击中仍能幸存的可能性是,非单调时效等级NWBUFR和NWBAFR源自合适的泊松冲击模型。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability 》 |2011年第12期| p.2412-2415| 共4页
  • 作者

    Aniruddha Pandey; Murari Mitra;

  • 作者单位

    Department of Mathematics, Seacom Engineering College, Sankrail, Howrah 711 302, India;

    Department of Mathematics, Bengal Engineering and Science University, Shibpur, Howrah 711103, India;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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