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Design and implementation of configurable ESD protection cell for 60-GHz RF circuits in a 65-nm CMOS process

机译:在65 nm CMOS工艺中用于60 GHz RF电路的可配置ESD保护单元的设计和实现

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摘要

The configurable electrostatic discharge (ESD) protection cells have been implemented in a commercial 65-nm CMOS process for 60-GHz RF applications. The distributed ESD protection scheme was modified to be used in this work. With the consideration of parasitic capacitance from I/O pad, the ESD protection cells have reached the 50-O input/output matching to reduce the design complexity for RF circuit designer and to provide suitable ESD protection. Experimental results of these ESD protection cells have successfully verified the ESD robustness and the RF characteristics in the 60-GHz frequency band. These ESD protection cells can easily be used for ESD protection design in the 60-GHz RF applications, and accelerate the design cycle.
机译:可配置的静电放电(ESD)保护单元已经在用于60 GHz RF应用的商用65 nm CMOS工艺中实现。修改了分布式ESD保护方案以用于此工作。考虑到来自I / O焊盘的寄生电容,ESD保护单元已达到50-O输入/输出匹配,以降低RF电路设计人员的设计复杂度并提供合适的ESD保护。这些ESD保护单元的实验结果已成功验证了60 GHz频带中的ESD鲁棒性和RF特性。这些ESD保护单元可轻松用于60 GHz RF应用中的ESD保护设计,并加快设计周期。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability》 |2011年第8期|p.1315-1324|共10页
  • 作者单位

    National Chiao-Tung University, Hsinchu, Taiwan;

    National Chiao-Tung University, Hsinchu, Taiwan;

    National Chiao-Tung University, Hsinchu, Taiwan,I-Shou University, Kaohsiung, Taiwan;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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