机译:Al-Cu金属间化合物在铜线键合中的生长行为研究
Central Product Solutions, Advanced Semiconductor Engineering, Inc., Kaohsiung 811, Taiwan;
Central Product Solutions, Advanced Semiconductor Engineering, Inc., Kaohsiung 811, Taiwan;
Department of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei 106, Taiwan;
Department of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei 106, Taiwan;
机译:超声Al-Cu引线键合的详细研究:I.处于键合状态的金属间化合物的形成
机译:Al-Cu金属间化合物的弹性,维氏硬度和热力学性质的第一性原理研究
机译:等温时效过程中Cu / Al金属间化合物的生长行为和铜球键的裂纹
机译:Al-Cu金属间化合物的生长行为和物理响应
机译:First-fevel Interconnects in Electronics Packaging: Alloyed Silver Intermetallic Growth Kinetics and Their Mechanical Reliability Effects on Wire Bonding =电子封装中的第一级互连:合金银互联金属生长动力学 和他们的机械可靠性 对线束的影响
机译:纳米粒子添加对不同热条件下Cu / Sn-Ag-Cu / Cu焊点中金属间化合物(IMCs)的形成和生长的影响
机译:等温老化期间Cu / Al金属间化合物的形成和生长行为研究