机译:RF-MEMS技术中用于高可靠性开关的主动恢复机制的建模和仿真
Institute for Physics of Electrotechnology, Munich University of Technology, ArtisstraJSe 21, 80333 Munich, Germany;
Institute for Physics of Electrotechnology, Munich University of Technology, ArtisstraJSe 21, 80333 Munich, Germany;
MEMS Research Unit, Fondazione Bruno Kessler - FBK, Ma Sommarive IS, 38123 Povo, Trento, Italy;
机译:一种基于热量的主动恢复机制,可提高RF-MEMS开关的可靠性
机译:改善RF-MEMS的可靠性:具有嵌入式主动自恢复机制的微开关设计的机械方面和实验测试,以抵消静止
机译:主动抗粘滞热基机制提高RF-MEMS开关可靠性
机译:关于恢复故障RF-MEMS开关的活性机制利用的实验研究
机译:CMOS技术可变性和可靠性的统计建模和仿真。
机译:可向低压和快速响应的RF-MEMS开关横向移动的三电极驱动器
机译:利用有源机制恢复故障的RF-MEMS开关的可操作性的实验研究