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机译:功率循环期间具有铅基焊点的非绝缘TO-220AB封装的寿命预测模型
STMicroelectronics, 16 rue Pierre et Marie Curie, BP 7155, 37071 Tours Cedex 2, France,Power Microelectronics Laboratory (IMP), Tours University, France;
Power Microelectronics Laboratory (IMP), Tours University, France;
Power Microelectronics Laboratory (IMP), Tours University, France;
Power Microelectronics Laboratory (IMP), Tours University, France;
Mechanics and Rheology Laboratory (LMR), Tours University, France;
STMicroelectronics, 16 rue Pierre et Marie Curie, BP 7155, 37071 Tours Cedex 2, France,Power Microelectronics Laboratory (IMP), Tours University, France;
机译:应力状态和应力三轴性在汽车电子中不同封装的焊点寿命预测中的作用
机译:负载脉冲持续时间对芯片互连焊点功率循环寿命的影响
机译:被动温度循环下电力电子模块中粘塑性无铅焊料的使用寿命预测
机译:多层堆叠芯片尺寸封装配置的板级热循环可靠性和焊点疲劳寿命预测
机译:在热循环,功率循环和振动环境下对陶瓷面阵列封装的焊点可靠性进行调查和预测。
机译:使用I型删失数据预测Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点的热循环寿命
机译:用X-FEm模拟复杂的微观结构几何形状及其在焊点寿命预测中的应用