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Impact of load pulse duration on power cycling lifetime of Al wire bonds

机译:负载脉冲持续时间对铝丝键合功率循环寿命的影响

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摘要

The elimination of solder interfaces in advanced power modules has increased the lifetime in active power cycling tests. It facilitates the investigation of Al wire bond reliability without the interference by solder fatigue. An extensive power cycling test program was conducted over the last 5 years to investigate the impact of test conditions on the component lifetime. The results serve as a basis to propose a new empirical lifetime model for advanced solder-free power modules. The test results and the empirical lifetime model will be presented with a special focus on the impact of the load pulse duration on the power cycling lifetime.
机译:消除高级电源模块中的焊接界面可延长有功功率循环测试的寿命。它有助于研究铝线键合的可靠性,而不会受到焊料疲劳的干扰。在过去的5年中,进行了广泛的电源循环测试程序,以研究测试条件对组件寿命的影响。该结果为提出用于高级无焊料功率模块的新的经验寿命模型的基础。测试结果和经验寿命模型将重点介绍负载脉冲持续时间对功率循环寿命的影响。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability 》 |2013年第11期| 1687-1691| 共5页
  • 作者

    U. Scheuermann; R. Schmidt;

  • 作者单位

    SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG, Sigmundstr. 200, 90431 Nuremberg, Germany;

    SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG, Sigmundstr. 200, 90431 Nuremberg, Germany;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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