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Molecularly derived mesoscale modeling of an epoxy/Cu interface: Interface roughness

机译:环氧/铜界面的分子衍生中尺度模型:界面粗糙度

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摘要

This paper addresses use of coarse-grained mesoscale model to look at angle dependencies in an epoxy-copper (Ⅰ) oxide interface in order to understand roughness effects on adhesion. The parameterizations of the coarse-grained beads were previously calculated from the molecular level [1-3] for the same polymer and copper oxide interface. Roughness was investigated in two ways: applying a zigzag interface to the interface separation simulation, and separating the interface using differing angles. When compared, both methods reduce to the similar energy trends. In addition, the effect moisture on the interface was compared for the rough and smooth interfaces.
机译:本文探讨了使用粗粒度中尺度模型来研究环氧-铜(I)氧化物界面中的角度依赖性,以了解粗糙度对附着力的影响。先前从相同聚合物和氧化铜界面的分子水平[1-3]计算出了粗粒珠的参数化。通过两种方式研究了粗糙度:将锯齿形界面应用于界面分离模拟,以及使用不同角度分离界面。当比较时,两种方法都减少到相似的能量趋势。另外,比较了粗糙和光滑的界面上水分对界面的影响。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2013年第8期|1101-1110|共10页
  • 作者

    Nancy Iwamoto;

  • 作者单位

    Honeywell Specialty Materials, P.O. Box 547, Ramona, CA 92065, United States;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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