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Pitfalls for CDM calibration procedures

机译:CDM校准程序的陷阱

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摘要

A product qualification gave very different results for CDM testing between three labs. This paper describes the investigation into the root cause of these differences. The most relevant issues are the measurement bandwidth and the quality of the calibration modules. An improved procedure is proposed.
机译:在三个实验室之间,产品合格证给出的CDM测试结果截然不同。本文介绍了对这些差异的根本原因的调查。最相关的问题是测量带宽和校准模块的质量。提出了一种改进的程序。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2013年第2期|190-195|共6页
  • 作者单位

    NXP Semiconductors, Gerstweg 2, 6534 AE Nijmegen, The Netherlands;

    NXP Semiconductors, Gerstweg 2, 6534 AE Nijmegen, The Netherlands;

    NXP Semiconductors, Gerstweg 2, 6534 AE Nijmegen, The Netherlands;

    MASER, Enschede, The Netherlands;

    MASER, Enschede, The Netherlands;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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