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机译:栅极重叠对IGZO薄膜晶体管中器件性能的影响
Department of Electronics Engineering, Incheon National University, #119 Academi-Ro Yoonsu-Gu, Incheon 406-772, Republic of Korea;
Department of Electronics Engineering, Incheon National University, #119 Academi-Ro Yoonsu-Gu, Incheon 406-772, Republic of Korea;
InGaZnO thin film transistor; Device reliability; Gate overlap;
机译:负栅极偏置应力下A-IGZO薄膜晶体管中的降解及其快速恢复
机译:低温栅极电介质对a-IGZO薄膜晶体管的器件性能和偏置应力稳定性的影响
机译:电荷陷阱层电导率控制对使用IGZO通道和ZnO电荷陷阱层的顶栅存储薄膜晶体管的器件性能的影响
机译:在RF和DC溅射沉积的A-IGZO通道上的底部门控薄膜晶体管中V_T的源/漏源/漏极重叠长度依赖性
机译:栅极分离对IGZO薄膜晶体管行为的影响
机译:利用IGZO和IGO沟道层的氧化物薄膜晶体管的漏极偏压降解现象的起源。
机译:超薄al 2 sub> O 3 sub>栅极介质实现IGZO薄膜晶体管的低压工作