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【24h】

SPECIAL SECTION: SELECTED PAPERS OF 2015 RELIABILITY OF COMPOUND SEMICONDUCTORS WORKSHOP (ROCS 2015)

机译:特别部分:2015年部分复合半导体车间可靠性报告(ROCS 2015)

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  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2015年第12ptaa期|2483-2483|共1页
  • 作者

    Ersland Peter; Menozzi Roberto;

  • 作者单位

    MA COM Technol Solut, Lowell, MA 01851 USA;

    Univ Parma, I-43100 Parma, Italy;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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