机译:无选择器TaOx / TiO2双层RRAM的交叉开关阵列
Natl Chiao Tung Univ, Dept Elect Engn, Hsinchu 300, Taiwan;
RRAM; Crossbar array; Forming-free; Self-rectifying; Bilayer; TiO2;
机译:具有较少选择器1TNR架构的3D-RRAM阵列中允许降低LRS非线性要求的写入方案
机译:器件非线性的无选择器RRAM,用于交叉点阵列应用
机译:使用改进的集总法分析单元变异性对3-D垂直RRAM(VRRAM)交叉开关阵列的影响
机译:RRAM交叉开关阵列存储器的基于TaOx的阈值切换选择器
机译:Memristor CrossBar阵列测试使用潜行路径
机译:后摩尔内存技术:RRAM CrossBar阵列和解决方案上的潜行路径电流(SPC)现象
机译:基于μ控制器的系统,用于连接无选择器RRam交叉开关阵列
机译:原子层沉积(aLD) - 沉积二氧化钛(TiO2)厚度对Zr40Cu35al15Ni10(ZCaN)/ TiO2 /铟(In)基电阻随机存取存储器(RRam)结构性能的影响。