机译:减少电子元件合格测试的相似方法
Univ Greenwich, Computat Mech & Reliabil Grp, London SE10 9LS, England;
Univ Greenwich, Computat Mech & Reliabil Grp, London SE10 9LS, England;
Univ Greenwich, Computat Mech & Reliabil Grp, London SE10 9LS, England;
Similarity analysis of electronic components; Reliability qualification tests; Hot solder dip process; Self-organising map;
机译:用于电子元件智能资格测试的预测分析方法
机译:检索和模拟器测试的聚乙烯TKR组件之间的磨损瘢痕相似性:人工神经网络方法
机译:一种基于主成分分析的新方法,用于测试药物溶出曲线的“相似性”。
机译:数据分析方法,用于电子元件的最佳资格测试
机译:用于表面贴装技术组件的回流焊接工艺兼容性评估的原型测试仪的实施和鉴定
机译:回收和模拟器测试的聚乙烯TKR组件之间的磨损痕迹相似:一种人工神经网络方法
机译:用于电子元件的智能资格测试的预测分析方法
机译:一种基于分析,相似性和综合测试的飞行硬件资格认定方法