机译:SiGe:C HBT的高级热仿真,包括生产线后端
Univ Federico II, Dept Elect Engn & Informat Technol, I-80125 Naples, Italy;
Univ Federico II, Dept Elect Engn & Informat Technol, I-80125 Naples, Italy;
Politecn Milan, Dipartimento Elettron Informaz & Bioingn, I-20133 Milan, Italy;
Univ Federico II, Dept Elect Engn & Informat Technol, I-80125 Naples, Italy;
Infineon Technol AG, D-85579 Neubiberg, Germany;
Back-end-of-line (BEOL); Finite element method (FEM); Heterojunction bipolar transistor (HBT); Self-heating (SH); Silicon germanium (SiGe); Thermal resistance;
机译:SiGe HBTS基本传输时间的分析模型,包括浓度相关的带隙变窄效应
机译:协调SiGe HBT中的3D混合模式仿真和测得的单事件瞬态
机译:SiGe HBT非均匀,非线性集电极掺杂分布的仿真
机译:SiGe HBT的高级热阻仿真,包括后端冷却效果
机译:SiGe HBT的功率衍生热表征和使用锁相环的定时电路设计。
机译:基于从头算的蒙特卡洛模拟法在纳米Si和SiGe中的热传输
机译:BEOL金属的热渗透深度分析及其对SiGe HBT热阻的影响