机译:用于评估MEMS器件可靠性的失效机制的新型关联模型
Beihang Univ, Reliabil & Syst Engn Sch, Beijing, Peoples R China;
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Correlative model; MEMS; Failure mechanism; Reliability evaluation;
机译:关于静电NEMS / MEMS器件的可靠性:综述有关介电电荷和静摩擦的失效机理以及新颖的表征方法的知识
机译:具有多种故障机制的马尔可夫更新冲击模型的可靠性评估
机译:单晶硅MEMS器件的可靠性和故障
机译:考虑故障机制相关性的系统可靠性建模的故障多态理论
机译:基于条件相关失效模型的电力电子设备微电网可靠性评估
机译:药物或患有心力衰竭和射血分数降低心室重塑作为疗效的预测设备对死亡率的定量评价的meta分析方法
机译:使用物理 - 故障技术和最大熵原理的半导体器件多机理故障的可靠性评估
机译:电磁学和电热法评估静电放电引起的微电子器件故障:器件可靠性的随机方面