机译:嵌入式SRAM IDDOFF通过设备分析和局部电路分析相结合来识别故障根源
GlobalFoundries, Prod Test & Failure Anal, Singapore, Singapore;
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机译:嵌入式SRAM中的动态故障分析:对存储器测试的影响
机译:SRAM器件和电路针对多V_(CMOS)的能源效率进行了优化
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机译:将逻辑和非易失性器件嵌入CMOS数字电路以提高能效
机译:RFID标签或其他无电池嵌入式设备的射频供电电路的设计与实现
机译:NBTI对FinFET sRam影响的统计可靠性分析及使用独立门器件的缓解技术
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