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机译:n型晶体硅光伏组件经历电势诱发退化的多级性能下降
JAIST, Grad Sch Adv Sci & Technol, Nomi, Ishikawa 9231292, Japan;
JAIST, Grad Sch Adv Sci & Technol, Nomi, Ishikawa 9231292, Japan;
Natl Inst Adv Ind Sci & Technol, Res Ctr Photovolta, Tsukuba, Ibaraki 3058568, Japan;
JAIST, Grad Sch Adv Sci & Technol, Nomi, Ishikawa 9231292, Japan;
Potential-induced degradation; Device reliability; Performance deterioration; N-type crystalline silicon solar cell; Photovoltaic module;
机译:后侧发射极发生电势退化的n型单晶硅光伏组件的电流密度-电压和外部量子效率特性的变化
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机译:在湿热应力测试中进行电位诱导降解的晶体硅模块的原位测量,用于估算低光功率性能
机译:晶体硅模块的原位测量在湿热应力测试中经历电位诱导的退化以评估低光功率性能。