机译:不同EFO电流设置下镀钯铜线的高温存储可靠性
Natl Chiao Tung Univ, Dept Mech Engn, Hsinchu 300, Taiwan;
Natl Chiao Tung Univ, Dept Mech Engn, Hsinchu 300, Taiwan;
Natl Chin Yi Univ Technol, Dept Mech Engn, Taichung 411, Taiwan;
Natl Chin Yi Univ Technol, Dept Mech Engn, Taichung 411, Taiwan;
Natl Chiao Tung Univ, Degree Program Appl Sci & Technol, Hsinchu 300, Taiwan;
Pd-coated Cu wire; Electronic flame off; Pd distribution; High temperature storage reliability;
机译:EFO参数和超声叠加对热超声球焊中镀钯铜丝工作硬化行为的影响
机译:高温储存和温度湿度下铜-铝丝键合可靠性预后的微观结构指标
机译:高温下合金钯涂覆铜线的微观结构特征
机译:高温存储过程中钯对镀钯铜线对铝垫金属化界面行为的影响
机译:表征铝键合焊盘上铜线键合的过程和可靠性。
机译:纳米半导体封装中高温老化后金和钯包覆铜线的可靠性评估和活化能研究
机译:键合应力和工艺温度对铝金属化镀钯银丝键合影响的研究
机译:通过非常强的电流脉冲爆炸汽化铜线的机理以及铜在高压和高温下的行为