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【24h】

A simpler method for life-testing laser diodes

机译:激光二极管寿命测试的更简单方法

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摘要

The procedure of measuring the I(V) characteristics of laser diodes at fixed time steps of a constant current life-test is revised. The possibility of using the test equipment itself to extract the characteristics is investigated and demonstrated. This eliminates the most trobulesome manual procedure in life-testing several devices.
机译:修改了在恒定电流寿命测试的固定时间步长测量激光二极管的I(V)特性的程序。研究并证明了使用测试设备本身提取特征的可能性。这消除了对多个设备进行寿命测试时最麻烦的手动过程。

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