机译:单芯片凸块和倒装芯片工艺的可靠性
机译:射频系统级封装的凸点形成和倒装芯片工艺
机译:铜柱凸块倒装芯片直接Cu-Cu键合方法的比较研究
机译:使用铜柱凸点的倒装芯片尺寸封装的低k层应力的参数研究
机译:在ALCAP粘合板上单芯片镀Ni / PD的加工,缓冲和组装,用于芯片和原型设计
机译:研究无铅倒装芯片焊料凸块中的电迁移行为。
机译:使用超声波传感器检查倒装芯片焊锡凸点的缺陷
机译:时效期间,Cu含量对倒装芯片Sn-3.0Ag-(0.5或1.5)Cu焊料凸点在芯片侧附近化合物形成的影响