首页> 外文期刊>Microelectronics reliability >Special issue on reliability of new technologies for power electronics (Si and wide band gap devices, interconnections, passives, analysis and applications)
【24h】

Special issue on reliability of new technologies for power electronics (Si and wide band gap devices, interconnections, passives, analysis and applications)

机译:电力电子产品新技术可靠性特刊(SI和宽带隙装置,互连,自由,分析和应用)

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability》 |2021年第9期|114326.1-114326.2|共2页
  • 作者

    Cova Paolo; Iannuzzo Francesco;

  • 作者单位

    Univ Parma Dipartimento Ingn & Architettura Parco Area Sci 181-A I-43124 Parma Italy;

    Aalborg Univ Ctr Reliable Power Elect CORPE Dept Energy Technol Pontoppidanstr 101 DK-9220 Aalborg Denmark;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号