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机译:纳米片和纳米线场效应晶体管的总电离剂量效应
NASA Univ Space Res Assoc Ames Res Ctr Moffett Field CA 94035 USA|NASA Ctr Nanotechnol Ames Res Ctr Moffett Field CA 94035 USA;
Gyeongsang Natl Univ GNU Dept Elect Engn Jinju 52828 South Korea|Gyeongsang Natl Univ GNU Engn Res Inst ERI Jinju 52828 South Korea;
NASA Ctr Nanotechnol Ames Res Ctr Moffett Field CA 94035 USA;
Total ionizing dose (TID); Nanosheet; Nanowire; Interface trap; Bulk oxide trap; Gate-all-around;
机译:多门纳米线场效应晶体管的总电离剂量响应
机译:累积总电离剂量(TID)和瞬态剂量率(TDR)对平面和垂直铁电隧道场效应 - 晶体管(TFET)的影响
机译:评价可重构场效应晶体管和SRAM电路的全电离剂量效应
机译:基于铜(Ⅱ)基于酞菁的场效应晶体管作为用于测定电离辐射剂量的总剂量传感器
机译:功率垂直双扩散金属氧化物半导体场效应晶体管中的总电离剂量效应。
机译:硅纳米线晶体管中电离杂质散射对总迁移率影响的模拟
机译:对二维过渡金属二硫代根苷灭绝晶体管的总电离剂量效应的研究