...
机译:芯片鳞片包装中再分配层疲劳性的半实证规律
NXP Semicond Gerstweg 2 NL-6534 AE Nijmegen Netherlands;
Univ Maryland Mech Engn Dept College Pk MD 20742 USA;
NXP Semicond Gerstweg 2 NL-6534 AE Nijmegen Netherlands;
NXP Semicond Gerstweg 2 NL-6534 AE Nijmegen Netherlands;
Univ Maryland Mech Engn Dept College Pk MD 20742 USA;
Chip-scale packages; Redistribution layer; Copper fatigue; Predictive modeling;
机译:晶圆级芯片级封装中重新分布线的电迁移可靠性研究
机译:零星早期寿命焊球脱离效果对晶圆级芯片级封装焊接接头的后续微观结构演化和疲劳
机译:功率循环持续时间对板级芯片级封装的热和疲劳可靠性特性的影响
机译:芯片级封装中重新分布层的抗疲劳性的半经验定律
机译:KMESS:使用半经验网格方法对锗探测器效率进行建模的开源软件包。
机译:采用喷墨印刷重新分布层对电容式微机械超声换能器(CMUT)的扇出晶圆级包装的可行性
机译:扇出晶圆级包装中重新分配层有限元分析(FEA)的可靠性模拟