机译:由于电迁移而导致FinFET SRAM阵列可靠性下降的建模
Georgia Inst Technol Sch Elect & Comp Engn Atlanta GA 30332 USA;
机译:基于深度神经网络的库,用于建模由于老化而导致的FinFET SRAM性能指标下降
机译:自加热多鳍SOI n沟道FinFET载流子退化的可靠性建模与分析
机译:阅读考虑FinFET SRAM的SBD和BTI效应的静态噪声裕量老化模型
机译:新的电迁移模型及其在FinFET SRAM退化仿真中的潜在应用
机译:SRAM和三维TSV IC的可靠性:针对软错误和三维热建模的设计保护
机译:基于回归模型和Copulas的考虑电池退化相关性的锂离子电池组可靠性建模方法
机译:NBTI对FinFET sRam影响的统计可靠性分析及使用独立门器件的缓解技术