机译:高稳固且成本效益的双节点心烦宽容锁设计纳米CMOS技术
Harbin Inst Technol, Microelect Ctr, Harbin 150001, Heilongjiang, Peoples R China;
Single node upset (SNU); Double node upset (DNU); Reliability; Radiation tolerant latch; Process variation;
机译:用于纳米级CMOS的新型低成本,双和三维损伤耐受锁存设计
机译:用于纳米级CMOS技术的高性能,低成本和鲁棒性的软容错锁存器设计
机译:DIRT闩:一种新型低成本双节点心烦宽容闩
机译:新型低成本和双节点爆冷容错锁设计纳米CMOS技术
机译:纳米级双栅CMOS器件和技术的建模和优化设计。
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件用于28 nm CMOS过程中的ESD保护
机译:纳米CMOS技术中多节点镦粗(MNU)缓解鲁棒锁存设计