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机译:使用时间分辨扫描非线性介电显微镜高分辨率观察SiO_2 / 4H-SiC界面处的缺陷
机译:通过时间分辨扫描非线性介电显微镜对SiO_2 / 4H-SiC界面处的电容进行纳秒显微镜
机译:基于扫描非线性介电显微镜的硅面和碳面SiO_2 / SiC MOS界面质量评估
机译:超高阶扫描非线性介电显微镜的局部深层瞬态光谱学及其在SiO_2 / SiC界面阱二维分布成像中的应用
机译:基于时间分辨扫描非线性介电显微镜的局部深能级瞬态光谱高分辨率观察SiO
机译:半导体材料中的缺陷和界面的高分辨率透射电子显微镜。
机译:使用扫描电子辅助介电显微镜对培养基中与纳米珠连接的抗体结合的活哺乳动物细胞进行高分辨率成像
机译:通过时间分辨扫描隧道显微镜观察亚稳态纳米岛生长和电化学界面溶解的动力学†
机译:通过Z对比sTEm(扫描透射电子显微镜)直接成像原子结构和缺陷和界面的化学。