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机译:功率半导体器件的功率循环退化检查器
机译:通过功率循环测试和热循环测试的有限元分析评估半导体功率器件的疲劳寿命
机译:功率循环期间IGBT功率器件的顶部互连中发生的劣化机理分析
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机译:通过剪切测试测量在有功功率循环期间功率半导体上的Al重金属丝键合的界面退化
机译:使用新兴技术测量功率半导体器件中的降解水平
机译:用于中频到高功率应用的宽带隙半导体开关装置的驱动电路综述
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