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机译:利用器件老化现象提高SRAM PUF的一致性和可靠性,以产生唯一的标识符
Nanyang Technol Univ, Sch Elect & Elect Engn, 50 Nanyang Ave, Singapore 639798, Singapore;
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Static random access memory (SRAM); Physical Unclonable Function (PUF); Device aging;
机译:利用设备老化现象来提高SRAM PUFS的均匀性和可靠性,以实现唯一标识符
机译:改善基于SRAM的PUFS的可靠性,在不同的操作条件下和老化降解
机译:利用电压偏置技术调整SRAM单元的大小,以增强存储器和PUF功能的可靠性?
机译:利用器件老化效应提高一致性和可靠性的SRAM PUF设计
机译:集成电路可靠性模型及其在提高可编程逻辑器件可靠性方面的适用性。
机译:使用独特的分子标识符改善下一代测序的高分辨率拷贝数变化分析
机译:改进了SRAM的标识符,秘密密钥和随机数的生成