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机译:厚度对通过简单溶胶-凝胶法制备的高(111)取向Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3薄膜介电性能的影响
Department of Applied Physics and Materials Research Center, Hung Horn, Kowloon, Hong Kong;
dielectric properties; ferroelectric properties; PZT; thin films; orientation;
机译:Pb_(0.8)La_(0.1)Ca_(0.1)Ti_(0.975)O_3籽晶层的高(11 l)取向Nb掺杂Pb(Zr_(0.2),Ti_(0.8))O_3薄膜的疲劳特性和热电性能通过溶胶凝胶法制备
机译:溶胶-凝胶掺杂E的Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3薄膜的介电和极化行为研究
机译:铟锡氧化物/石英衬底上Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3薄膜的合成及光学表征
机译:Pb的介电和疲劳性能(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3由氧化物前体制备的薄膜
机译:用于高应变传感器和执行器应用的高取向钛酸钡钡和镍酸镧薄膜的溶胶-凝胶合成。
机译:Pb(Zr0.53Ti0.47)O3薄膜中铁电和光学性质的厚度依赖性
机译:依赖于成分的极化转换行为 (111) - 优选的多晶pb(Zr_ {x} Ti_ {1-x})O_ {3}薄膜
机译:溶胶 - 凝胶法制备高取向pbTiO3薄膜的合成与显微结构