机译:表征低k膜的激光声学测试方法的电流极限
Fraunhofer Institute for Material and Beam Technology IWS, 01277 Dresden, Germany;
low-k films; young's modulus; density; surface acoustic waves; laser-acoustics;
机译:电晕电荷法在线表征低k膜的介电常数和漏电流
机译:我们目前的消费产品测试和测量方法是否达到极限或检测皮肤效果的能力?
机译:使用新设计的曲折测试基于YBCO薄膜的故障电流限制器
机译:一种干涉测量方法,用于通过凸起测试表征薄膜的机械性能
机译:通过沉积方法和膜厚控制和设计PECVD碳掺杂低k二氧化硅薄膜的关键性能。
机译:用于进一步缩小超大型集成器件-Cu互连的等离子增强化学气相沉积SiCH膜的低k覆盖层的材料设计
机译:具有恒定电流的电测量:表征介电膜的实用方法
机译:对砌体极限状态设计方法的当前材料测试标准的评估