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机译:作为新型非易失性存储器的高k电介质中嵌入的金纳米团簇的存储特性的生长环境
Department of Applied Physics, The Hong Kong Polytechnic University, Hong Kong, PR China;
metal nanoclusters; au; floating gate memory; flash memory;
机译:DyScO_3高k栅极介电层中嵌入的Au纳米晶体的存储特性和隧穿机理
机译:形成气体退火对嵌入LaAiO(3)高k电介质中的Ge纳米晶体存储特性的影响
机译:电特性对Au纳米晶体尺寸的依赖性(用于在PVK(Poly(N-vinyIcarbazole))层中嵌入Au纳米晶体制造的非易失性存储器)
机译:用Au纳米晶体嵌入PVK(聚(N-乙烯基咔唑))层的非挥发性储存的电气特性对Au纳米晶体尺寸的依赖性
机译:用于非易失性存储器应用的高k电介质和金属栅电极的研究。
机译:高k电介质的非易失性存储器述评:闪存可产生超过32 nm的光
机译:作为新型非易失性存储器的高k介质中嵌入的AU纳米簇的存储特性的增长环境