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机译:带升降孔的销盘对晶片平面度的影响
National Defense Academy, 1-10-20, Hashirimizu, Yokosuka-shi, Kanagawa 239-8686, Japan;
National Defense Academy, 1-10-20, Hashirimizu, Yokosuka-shi, Kanagawa 239-8686, Japan;
Akiruno Technology Centre, Fujitsu Microelectronics Limited, 50, Fuchigami, Akiruno-shi, Tokyo 197-0833, Japan;
Wafer Business Unit, KLA-Tencor Japan Limited, 134, Godo-chou, Hodogaya-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 240-0005, Japan;
Core Technology Center, Covalent Materials Corporation, 30, Soya, Hadano-shi, Kanagawa 257-8566, Japan;
vacuum pin chuck; wafer flatness; lift hole; finite element method; pin pitch; pin diameter; local deformation;
机译:晶片在提升孔上方的动态变形以及由于卡盘而对平面度的影响
机译:销式真空吸盘的钳位特性(第二次报告)--减少背面波纹对晶片平整度的影响-
机译:夹头环密封和抛光步骤对晶片平整度的影响
机译:超平晶片卡盘:从仿真和测试到完整的300mm晶片卡盘,插针之间的晶片变形小
机译:重复举升过程中肌纤维组成和强度对肌电,脊髓运动和负荷加速的影响。
机译:通过化学剥离光刻技术对晶圆级生物活性衬底进行构图
机译:用自适应夹紧元件夹紧车床卡盘中的技术因素对车削零件动态误差形成的影响
机译:卡盘设计对软木单板剥离块旋出扭矩的影响