机译:基于温度相关的I-v和C-v测量,在中等掺杂N-inp上金肖特基接触的势垒特性
Atatuerk Ueniversitesi, Fen-Edebiyat Fakueltesi, Fizik Boeluemue, 25240 Erzurum, Turkey;
inp; schottky diode; temperature dependent i-v and c-v; measurements; gaussian distribution; barrier inhomogeneities;
机译:室温下串联电阻和界面状态对Au / Bi掺杂聚乙烯醇(PVA)/ n-Si肖特基势垒二极管I-V,C-V和G /ω-V特性的影响
机译:室温下串联电阻和界面状态对Au / Bi掺杂聚乙烯醇(PVA)/ n-Si肖特基势垒二极管I-V,C-V和G /ω-V特性的影响
机译:Ni / Cu / n-InP肖特基势垒二极管的温度相关电流电压(I-V)和电容电压(C-V)特性
机译:Cu / Au Schottky触点的温度依赖性肖特基特性对N-INP
机译:金/(100)砷化镓和金/硅化铂/(100)硅二极管的肖特基势垒高度和弹道电子传输特性的横向变化。
机译:取决于金厚度的肖特基势垒高度用于金属硅化学腐蚀中的电荷转移
机译:稀土金属/ p-GaN肖特基接触的I-V和C-V特性
机译:重掺杂对肖特基势垒和p-N结的I-V特性的影响。