机译:测量MOS器件中的平带电压的另一种方法
Flatband voltage; MOS devices; Gate voltage; Critical frequency; Interface states; Onide traps;
机译:由于SiC MOS器件中的电荷俘获,NO退火对平带电压不稳定性的影响
机译:具有Mgo或La_2o_3掺入和堆叠变化的锡/氢氟酸器件中平带电压与电子迁移率之间的通用相关性
机译:掺杂Gd的HfO2电介质的MOS器件中电荷和偶极子对平带电压的影响
机译:采用高k介电材料的MOS器件的平带电压分析
机译:开发了用于多阈值电压应用的n-MOS到p-MOS可调谐单金属栅极/高kappa绝缘体器件的创新制造方法。
机译:以滑石粉为参考材料的玻璃微珠的介电特性用于介电方法和土壤水分测量装置的校准和验证
机译:使用高K介电材料的MOS器件的平带电压分析