机译:氧化物中的热载流子降解和与时间有关的介电击穿
机译:机械应力对小型互补金属氧化物半导体热载流子寿命和时间相关介电击穿的影响
机译:与热载流子注入和随时间变化的介电击穿相关的等离子体损坏的氧化物可靠性研究
机译:随时间变化的介电击穿故障中超低k介电材料降解和Cu /超低k互连的纳米结构改变的证据
机译:光致载体喷射对时间依赖性介电击穿的影响
机译:研究氧化物击穿,热载流子和NBTI对MOS器件和电路可靠性的影响。
机译:质子辐照对常断型AlGaN / GaN栅嵌入式金属-绝缘体-半导体异质结构场效应晶体管随时间变化的介电击穿特性的影响
机译:基于互补拉曼和FTIR光谱研究的Cu /超低k电介质的时间介电击穿失效机理分析及工艺改进
机译:区域熔化 - 重结晶硅 - 绝缘体薄膜上产生的缺陷相关介电击穿,变化陷阱和界面态氧化物生成