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Moving physical failure analysis from the lab to the fab

机译:将物理故障分析从实验室转移到晶圆厂

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摘要

A contamination risk assessment has revealed that dual-beam instruments can be safely integrated into production lines, thereby shortening analytical and process development cycles. rnSemiconductor fabrication is a highly complex operation that may include hundreds of interactive processes, each of which must function within a tightly defined operational window.
机译:污染风险评估表明,双光束仪器可以安全地集成到生产线中,从而缩短了分析和工艺开发周期。半导体制造是一个高度复杂的操作,可能包括数百个交互过程,每个过程必须在严格定义的操作窗口内起作用。

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