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THE INFLUENCE OF TENSOEFFECT ON TCR AND STABILITY OF RESISTORS

机译:张量效应对TCR和电阻稳定性的影响

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摘要

We consider the influence of tensoeffects on the TCR and relative change of resistance in resistors made of foil, thin, film and thick film. This phenomenon is due to deformation of the resistive element caused by differences between the coefficients of bulk thermal expansion in the film and its substrate.
机译:我们考虑了张力效应对TCR的影响以及箔,薄膜,薄膜和厚膜制成的电阻器中电阻的相对变化。这种现象是由于电阻元件的变形所致,该电阻元件是由薄膜及其基材中的整体热膨胀系数之间的差异引起的。

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