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机译:非均匀采样下的数字重复控制:LMI稳定性分析
Department of Electrical and Electronic Engineering, Universidad Nacional de Colombia, 111321 Bogota DC, Colombia;
Department of Applied Mathematics IV, Universitat Politecnica de Catalunya, 08800 Vilanova i la Geltru, Spain;
Institute of Industrial and Control Engineering, Universitat Politecnica de Catalunya, 08028 Barcelona, Spain;
机译:非均匀采样下的数字重复控制:LMI稳定性分析
机译:时变采样周期下数字重复控制系统的稳定性分析
机译:基于LMI的稳定性分析和鲁棒控制器设计,用于离散线性重复过程
机译:在时变采样期下的数字重复控制:LMI稳定性分析
机译:连续信号的非均匀采样和非均匀采样信号的线性处理。
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机译:具有非均匀采样和通信延迟的采样数据控制系统稳定性分析的新结果
机译:非均匀斜盘刚度对耦合叶片控制系统动力学和稳定性的影响。第1部分 - 分析和应用