机译:栅极热氧化层对InGaP / InGaAs掺杂沟道场效应晶体管的影响
Department of Electronic Engineering, National Kaohsiung Normal University, 116, Ho-ping 1st Rd., Kaohsiung 802, Taiwan;
semiconductors; heat treatment; electronic characterization; heterostructures;
机译:具有InGaAs伪晶掺杂沟道层的InGaP / GaAs骆驼状栅极场效应晶体管
机译:具有高/ c介电氧化物层和金属栅电极的应变InGaAs沟道n型金属氧化物半导体场效应晶体管的技术计算机辅助设计仿真研究
机译:通过原子层沉积生长具有氧化物栅极电介质的耗尽型InGaAs金属氧化物半导体场效应晶体管
机译:使用骆驼状栅极结构的InGaP / GaAs / InGaAs掺杂沟道场效应晶体管
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:具有溅射介电层的高性能包裹栅InGaAs纳米线场效应晶体管
机译:通过原子层沉积生长具有氧化物栅极电介质的耗尽型InGaAs金属氧化物半导体场效应晶体管