机译:掩盖失败原因的相关竞争风险模型的推论
Department of Statistics, University of Toronto, 100 St. George Street, Toronto, Ontario, M5S 3G3, Canada;
dependent competing risks; masked cause; missing data; piecewise constant hazard; second stage data;
机译:基于Em算法的带隐含故障原因的竞争风险模型推理
机译:普及竞争风险模型的贝叶斯分析,逐步循环减刑下逐步加速寿命试验失败的屏蔽原因
机译:贝叶斯竞争风险模型的探险态度,失败的原因和不完全失败时期
机译:对电子系统的可靠性评估,该评估会受到软硬故障的相互竞争风险的影响
机译:具有间隔居中并掩盖竞争风险数据的广义MLE。
机译:同时推断错误分类的结果和竞争风险失败时间数据
机译:掩盖失败原因的相关竞争风险模型的推论