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Local influence analysis of the 2PL IRT model for binary responses

机译:二元响应2PL IRT模型的局部影响分析

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摘要

Detecting influence is an important diagnostic stage in every statistical analysis. This paper examines the local influence of minor perturbations of the model and data for the two-parameter logistic item response model for binary data. By applying Cook's approach in the corresponding EM algorithm used to obtain the maximum likelihood estimate of the model parameters, the normal curvature and the conformal normal curvature - building blocks for obtaining the diagnostic measures - are computed. The methodology is illustrated with two real examples and an artificial one.
机译:检测影响是每个统计分析中的重要诊断阶段。 本文研究了二进制数据的两参数逻辑项目响应模型的模型和数据的局部影响。 通过在用于获得模型参数的最大似然估计的相应EM算法中,计算用于获得诊断措施的正常曲率和保形常规曲率构建块的应用方法。 该方法用两个真实的例子和人造的方法说明。

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