机译:自相关估计量对X控制图性能的影响
Tecnol Monterrey, Sch Sci & Engn, Monterrey, Mexico;
Tecnol Monterrey, Sch Sci & Engn, Monterrey, Mexico;
Univ Sao Paulo, Dept Prod Engn, Polytech Sch, Sao Paulo, Brazil;
Univ Nantes, Inst Univ Technol Nantes, Dept Qualite Logist Ind & Org, 2 Ave Prof Jean Rouxel,BP 539, F-44475 Nantes, France;
Univ Catania, Dept Civil Engn & Architecture, Catania, Italy;
AR(1) process; (X)over-bar control chart; estimated parameters; standard deviation of the ARL; guaranteed performance;
机译:威布尔数据和自相关对Shewhart和指数加权移动平均控制图的性能的影响
机译:自相关对MCUSUM控制图性能的影响
机译:基于修正的基于广义自相关的估计器,用于多路径环境中的时间延迟-估计器性能和多路径数量之间的权衡
机译:忽略自相关对T 2 sup>控制图性能的影响
机译:评估Shewhart X-bar控制图的性能作为sigma估计值的基尼平均差,平均偏差和准范围
机译:和最大开赛自相关的比较似然估计的多普勒光学相干断层扫描
机译:自相关对受控相关MEWMA控制图性能的影响
机译:基于改进自相关的谱矩估计性能的超定系统