机译:应变和电迁移引起的表面扩散对空隙和薄膜演化的三维有限元分析
A. Diffusion; A. Surface; A. Electromigration; B. Elastic;
机译:应变和电迁移引起的表面扩散引起的空洞运动和演化的有限元分析
机译:在钝化金属薄膜和倒装芯片焊点中,由毛细管,电迁移和稳态热流引起的热应力梯度驱动的表面漂移扩散会导致空隙的形态演化。 Ⅰ。理论
机译:钝化金属薄膜和倒装芯片焊点中由毛细管驱动的表面漂移扩散,电迁移和稳态热流引起的热应力梯度引起的空隙形态演变。 Ⅱ。应用领域
机译:金属薄膜互连中电迁移引起的空隙运动和表面振荡的分析
机译:微电子互连中电迁移和应力空隙的有限元建模。
机译:非轴向载荷下不同种植体设计对应变和应力分布的影响:三维有限元分析
机译:不同维度有限元效率的比较分析在薄壳应力 - 应变状态分析中的影响
机译:空心板混凝土板桥刚度参数的分析与试验评价。体积1.后张空洞板桥三维有限元分析