机译:用于存储器接口时序测试和测量的内置自测方案
Department of Electrical and Computer Engineering, The University of Texas at Austin, Austin, TX, USA;
Department of Electrical and Computer Engineering, The University of Texas at Austin, Austin, TX, USA;
Built-in Self-Test (BIST); Memory I/O interfaces; Timing test; Automated Test Equipment (ATE);
机译:用于存储器接口时序测试和测量的内置自测方案
机译:SETBIST:随机访问存储器的软错误容忍内置自测方案
机译:基于破碎和突变体的内置自我测试和计数基于阈值的内置自修复机制,用于存储器
机译:用于DDR存储器输出时序测试和测量的内置自测方案
机译:针对模拟和混合信号设备的内置自检方案。
机译:具有数字内置自检功能的MEMS加速度计的ΣΔ闭环接口
机译:370 MHz内存内置自检状态机