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机译:p型硅的淬火缺陷
Centro Brasileiro de Pesquisas Fisicas, Rio de Janeiro, Brazil;
机译:水淬硅中与铁和金有关的缺陷
机译:掺杂有III类受体杂质的硅中的淬火诱发缺陷:产生和退火
机译:使用光致发光,缺陷带发射和锁定热成像技术将多晶硅缺陷类型关联起来
机译:砷注入的p型硅上非常薄的二氧化硅膜中的新型局部缺陷
机译:使用光致发光光谱法研究N型4H碳化硅和半绝缘6H碳化硅中的缺陷。
机译:缺陷诱导发光猝灭与掺入硅纳米晶体中的磷的电荷载流子生成随尺寸的变化
机译:缺陷诱导的发光淬火与硅纳米晶体中的磷的电荷载体产生,如尺寸的函数
机译:硼掺杂硅的淬火缺陷。